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高村 三郎; 前田 裕司
応用物理, 51(3), p.260 - 271, 1982/00
極低温で高速中性子照射した金属の照射欠陥に関してわれわれの測定装置を紹介し、それらを用いて得られた研究成果を中心に述べた。まず高速中性子照射によって生成された欠陥の生成量、回復過程に関して、電気抵抗、X線回折、長さ測定を行ない、高速中性子照射と電子線照射との相違点を述べた。体心立方金属の機械的試験についても言及した。また核融合炉用超電導磁石材料の極低温照射後の試験結果を述べ、問題点を指摘した。
